Show simple item record

dc.contributor.authorYazıcı, Mehmet Akifen_US
dc.contributor.authorÖztoprak, K.en_US
dc.contributor.authorAkar, Nailen_US
dc.contributor.authorAkar, G. B.en_US
dc.coverage.spatialAydın, Turkey
dc.date.accessioned2016-02-08T11:37:01Z
dc.date.available2016-02-08T11:37:01Z
dc.date.issued2008-04en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11693/26827
dc.descriptionDate of Conference: 20-22 April 2008
dc.descriptionConference name: IEEE 16th Signal Processing, Communication and Applications Conference, SIU 2008
dc.description.abstractÇok-akışlı eşler-arası video, gelecek nesil isteğe bağlı video sistemleri için kullanılmaya aday teknolojilerdendir. Çok-akışlı video sistemlerinin sorunlarından birisi, eş dalgalanması adı verilen, eşlerin ağla olan bağlantılarının kopup düzelmesi durumudur. Eş dalgalanmasının bütün eşler-arası sistemlerde olumsuz etkileri olduğu bilinmektedir. Bu etkinin hafifletilmesi için çeşitli hata kontrollü alt-akış kodlama teknikleri önerilmiştir. Bu makalede, eş dalgalanması ve hata kontrolünün rolünü incelemek amacıyla sürekli zamanlı Markov zinciri tabanlı bir rassal model önerilmektedir. Bu model kullanılarak, hata kontrolünün rolü, gelecek nesil çok-akışlı eşler-arası isteğe bağlı video sistemlerinin tasarımında kullanılmak üzere nicel olarak ortaya konmaktadır.en_US
dc.language.isoTurkishen_US
dc.source.titleIEEE 16th Signal Processing, Communication and Applications Conference, SIU 2008en_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1109/SIU.2008.4632689en_US
dc.subjectEşler-arası ağlar
dc.subjectİstege bağlı video
dc.subjectEş dalgalanması
dc.subjectGüvenilirlik modellemesi
dc.subjectMarkov zincirleri
dc.subjectYouTube
dc.subjectHelium
dc.subjectTitanium
dc.subjectEncoding
dc.subjectInternet
dc.subjectConferences
dc.subjectNails
dc.titleÇok-akışlı eşler arası isteğe bağlı video sistemlerinin Markov zinciri tabanlı güvenilirlik modellemesien_US
dc.typeConference Paperen_US
dc.departmentDepartment of Electrical and Electronics Engineeringen_US
dc.citation.spage1en_US
dc.citation.epage6en_US
dc.identifier.doi10.1109/SIU.2008.4632689en_US
dc.publisherIEEE


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record