Show simple item record

dc.contributor.authorDeprem, Zeynelen_US
dc.contributor.authorÇetin, A. Enisen_US
dc.coverage.spatialMalatya, Turkey
dc.date.accessioned2016-02-08T12:14:48Z
dc.date.available2016-02-08T12:14:48Z
dc.date.issued2015-05en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11693/28230
dc.descriptionDate of Conference: 16-19 May 2015
dc.descriptionConference name: 23nd Signal Processing and Communications Applications Conference (SIU), 2015
dc.description.abstractBu dokümanda çözünürlüğü yüksek ve çapraz terim içermeyen Cohen sınıfı bir Zaman-frekans (ZF) dağılımının, çekirdek kestirim yöntemi ile elde edilmesi tanıtılmaktadır. Çekirdek kestirimi, başlangıç taslak bir zaman-frekans dağılımının l1 normuna ait epigraf kümesi üzerine izdüşümü ile elde edilmektedir. Kestirilen çekirdek, sinyalin belirsizlik (Ambiguity) düzlemindeki hizalanması ile uyumlu ve çapraz terimleri içermeyecek bir filtreleme sağlamaktadır.
dc.description.abstractIn this article a method is introduced to obtain a high-resolution and cross term free Cohen's Class Time-frequency (TF) distribution based on kernel estimation. The kernel is estimated via projecting an initial rough TF distribution onto the epigraph set of l1 norm. The kernel is aligned with the signal alignment in ambiguity domain and filters out the cross terms. © 2015 IEEE.
dc.language.isoTurkishen_US
dc.source.title23rd Signal Processing and Communications Applications Conference, SIU 2015 - Proceedingsen_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1109/SIU.2015.7130250en_US
dc.subjectCohen's classen_US
dc.subjectProjectionen_US
dc.subjectTime-frequencyen_US
dc.subjectFrequency estimationen_US
dc.subjectAnd filtersen_US
dc.subjectCross-termsen_US
dc.subjectHigh resolutionen_US
dc.subjectKernel estimationen_US
dc.subjectProjectionen_US
dc.subjectTime frequencyen_US
dc.subjectTime-frequency distributionsen_US
dc.subjectSignal processingen_US
dc.titleZaman-frekans dağılımı için çekirdek kestirimien_US
dc.title.alternativeKernel estimation for time-frequency distributionen_US
dc.typeConference Paperen_US
dc.departmentDepartment of Electrical and Electronics Engineeringen_US
dc.citation.spage1973en_US
dc.citation.epage1976en_US
dc.identifier.doi10.1109/SIU.2015.7130250en_US
dc.publisherIEEE
dc.contributor.bilkentauthorÇetin, A. Enis


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record