Show simple item record

dc.contributor.authorArıkan, F.en_US
dc.contributor.authorToker, C.en_US
dc.contributor.authorSezen, U.en_US
dc.contributor.authorDeviren, M. N.en_US
dc.contributor.authorÇilibaş, O.en_US
dc.contributor.authorArıkan, Orhanen_US
dc.coverage.spatialTrabzon, Turkey
dc.date.accessioned2016-02-08T11:42:46Z
dc.date.available2016-02-08T11:42:46Z
dc.date.issued2014-04en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11693/27041
dc.descriptionDate of Conference: 23-25 April 2014
dc.descriptionConference name: 22nd Signal Processing and Communications Applications Conference (SIU) 2014
dc.description.abstractBu çalışmada, IONOLAB grubunun son 10 yıldır iyonküre uzaktan algılaması ve 2-B görüntüleme çalışmaları özetlenecektir. TÜBİTAK EEEAG 105E171 ve 109E055 projelerinde, çift frekanslı Yerküresel Konumlama Sistemi (YKS) alıcılarının sözde menzil ve faz gecikmesi kayıtlarından özgün Toplam Elektron İçeriği (TEİ) kestirim yöntemi IONOLAB-TEC geliştirilmiştir. Önemli bir Uzay Havası hizmeti olarak www.ionolab.org sitesinden tüm araştırmacılara açılan IONOLAB-TEC, dünyada ilk ve tek gürbüz, güvenilir ve hassas tek istasyon için TEİ kestirimleri yapabilmektedir. Uzayda ve zamanda seyrek YKS-TEİ kestirimlerinin bölgesel ve yerküresel aradeğerlemesi için çalışmalar yapılmış ve Türkiye üzerindeki TUSAGA-Aktif istasyon ağından IONOLAB-TEC yöntemi ile elde edilen Toplam Elektron İçeriği (TEİ) kestirimleri kullanılarak otomatik yüksek çözünürlüklü 2-B TEİ görüntüleri elde edilmiştir. IRI-Plas iyonküre iklimsel modeli altyapısıyla literatürde ilk kez hızlı ve gürbüz elektron yoğunluğu dağılımları elde edilmiş ve iyonküre model parametreleri özgün aradeğerleme ile birleştirilmiştir. www.ionolab.org sitesinde iyonküre kritik frekans ve yükseklik haritaları sunulmaktadır. IONOLAB grubunun bu önemli katkıları TÜBİTAK EEEAG 112E568 projesi kapsamında devam etmektedir.
dc.description.abstractIn this study, research activities of IONOLAB group on remote sensing and 2-D imaging of ionosphere in the last 10 years will be summarized. In TUBITAK EEEAG 105E171 and 109E055 projects, a novel Total Electron Content (TEC) estimation method, IONOLAB-TEC, is developed using the dual frequency Global Positioning System (GPS) pseudo range and phase delay recordings. The IONOLAB-TEC computation is provided from www.ionolab.org as an important and unique Space Weather service that can estimate robust, reliable and accurate single station TEC values. The sparse estimates of GPS-TEC in space and time are interpolated regionally and globally and TNPGN-Active IONOLAB-TEC values are mapped using novel space-time interpolation methods. Ionospheric climatic model IRI-Plas is used as a background for fast and robust electron density distributions first time in literature. Critical Ionosperic parameters are interpolated to obtain global and regional distributions. Critical frequency and height maps are provided in www.ionolab.org as another Space Weather Service. The important contributions of IONOLAB group will continue in TUBITAK 112E568 project. © 2014 IEEE.
dc.language.isoTurkishen_US
dc.source.title22nd Signal Processing and Communications Applications Conference, SIU 2014 - Proceedingsen_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1109/SIU.2014.6830530en_US
dc.subjectComputerized Ionospheric Tomographyen_US
dc.subjectIonosphereen_US
dc.subjectMappingen_US
dc.subjectTNPGN-Activeen_US
dc.subjectTotal Electron Contenten_US
dc.subjectFrequency estimationen_US
dc.subjectIonospheric measurementen_US
dc.subjectRemote sensingen_US
dc.subjectSignal processingen_US
dc.subjectWeather information servicesen_US
dc.subjectCritical frequenciesen_US
dc.subjectEstimation methodsen_US
dc.subjectInterpolation methoden_US
dc.subjectIonospheric tomographyen_US
dc.subjectRegional distributionen_US
dc.subjectResearch activitiesen_US
dc.subjectTotal electron contenten_US
dc.subjectSpace opticsen_US
dc.titleIonolab grubunun iyonküre uzaktan algılama ve 2-b görüntüleme çalışmalarıen_US
dc.title.alternativeRemote sensing and 2-D imaging of ionosphere by IONOLAB groupen_US
dc.typeConference Paperen_US
dc.departmentDepartment of Electrical and Electronics Engineering
dc.citation.spage1520en_US
dc.citation.epage1523en_US
dc.identifier.doi10.1109/SIU.2014.6830530en_US
dc.publisherIEEEen_US


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record